LJD-C型全自動介電常數測定儀使用方法詳解

一、自動介電常數測試方法與步驟(需選配自動測試軟件模塊)：

1.自動介電常數測試時，基本步驟同手動一樣，只是主機支持通過數據模塊記錄S916測試夾具的數據，并自動計算出介電常數。

2.使用數據轉換連接線,連接S916數據傳輸接口和介電常數測試主機背板上的四芯插座.（見下圖）

3.按主機鍵盤區(qū)“2"按鍵1次，出現下圖界面.

4.當S916測試夾具夾緊待測材料，調節(jié)主機的主調電容使主機諧振，此時第二次按主機鍵盤區(qū)“2"按鍵。此時主機將保留最終的D2數據，并顯示下圖界面

5.拿出被測材料，再次調節(jié)S916測試夾具的上下極片，直到主機再次諧振，最后再一次按下主機鍵盤區(qū)“2"按鍵，主機保存D4數據，并計算出介電常數的數值。顯示下圖界面，此時主機已經把計算出的介電常數e顯示在顯示屏上。

6.按主機鍵盤區(qū)“Q"按鍵退出測試，結束測試。

二、LJD系列介電常數介質損耗測定儀介質損耗測試方法與步驟：

1.主機C0值的計算方式:

a）選一個適當的諧振電感接到“Lx"的兩端；

b）將調諧電容器調到200P左右，令這個電容是C4，

c）按下儀器面板的頻率搜索鍵，使測試回路諧振，諧振時Q的讀數為Q4(注：若頻率搜索未能找到高Q值諧振點，可以通過頻率旋鈕來微調頻率來達到Q值最大值的諧振點；

d）將測試夾具接在“Cx"兩端，放入材料，上下極片夾緊材料后記住夾具顯示值，然后拿出材料，調回到夾具的顯示數值，調節(jié)主調電容，使測試電路重新諧振，此時可變電容器值為C3，Q值讀數為Q3。(注：C3數值肯定比C4要小)LJD系列介電常數介質損耗測定儀

機構電容的有效電容為：Cz= C4－C3

2.分布電容為機構電容CZ和電感分布電容CL（參考電感的技術說明）的和

介質損耗系數/介質損耗正切值為

3.把S916測試夾具裝置上的插頭插入到主機測試回路的“電容"兩個端子上。

4.在主機電感端子上插上和測試頻率相適應的高Q值電感線圈（本公司 主機配套使用的LKI-1電感組能滿足要求），如：1MHz 時電感取100uH，15MHz時電感取1.5uH。

5.被測樣品要求為圓形，直徑50.4--52mm/38.4--40mm，這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間，樣品太薄或太厚就會使測試精度下降，樣品要盡可能平直。

6.調節(jié)S916測試夾具的測微桿，使S916測試夾具的平板電容極片相接為止，按ZERO 清零按鍵，初始值設置為0。再松開兩片極片，把被測樣品夾入兩片極片之間，調節(jié)S916測試夾具的測微桿，到的平板電容極片夾住樣品止（注意調節(jié)時要用S916測試夾具的，以免夾得過緊或過松），這時能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數值，既是樣品的厚度D2，改變主機上的主調電容容量，使主機處于諧振點（Q值最大值，為了得到準確的Q值請耐心來回調節(jié)主調電容，當Q為最大值時候可以稍等1分鐘，等Q值穩(wěn)定），然后按一次 主機上的小數點（tgδ）鍵(請用絕緣材料來按，不要用手來按），在顯示屏上原電感顯示位置上將顯示C0= x x x(C0=Cz+CL電感分布電容)需要手動輸入，記住厚度D2的值，此時顯示數值為C2和Q2。

7.取出S916測試夾具中的樣品，（保持S916測試夾具的平板電容極片之間距不變）這時主機又失去諧振（Q值變小），再改變主機上的主調電容容量，使主機重新處于諧振點（Q值最大值，為了得到準確的Q值請耐心來回調節(jié)主調電容，當Q為最大值時候可以稍等1分鐘，等Q值穩(wěn)定））上。

注意：多次測試同一個材料時，要求保持每次材料厚度的讀數一致。

8.第二次按下 主機上的小數點（tgδ）鍵，顯示屏上原C2和Q2顯示變化為C1和Q1，同時顯示介質損耗系數tn =．x x x x x ，即完成測試。

9.出錯提示，當出現tn =  NO 顯示時，說明測試時出現了差錯，發(fā)生了Q1 ≤ Q2和C1 ≤ C2的錯誤情況。